Объекты для подразделения "УФ-2 лаб. твердотельной электроники, опто- и наноэлектроники" с годом 2013

На уровень вверх
Экспорт в [feed] Atom [feed] RSS 1.0 [feed] RSS 2.0
Группировка по: Авторы | Тип объекта | Нет группировки
Количество объектов: 27.

Статья

Sergeev V. A.,, Rogov V.N., Ulyanov A.V. Systematic errors when determining the parameters of the spectrum of light-emitting diodes using two photoreceivers. Measurement techniques , 2013 , 56 (4). С. 415-420.

Shalin A.S., Nikitov S.A. Approximate Model for Universal Broadband Antireflection Nano-Structure. Progress in Electromagnetic Research B , 2013 (47). С. 127-144.

Shalin A.S., Sukhov S.V. Plasmonic Nanostructures as Accelerators for Nanoparticles: Optical Nanocannon. Plasmonics. - 2013. - Vol. 8. Issue 2. - P. 625-629. , 2013 , 8 (2). С. 625-629.

Simovski C. R., Shalin A.S., Voroshilov P.M., Belov P.A. Photovoltaic absorption enhancement in thin-film solar cells by non-resonant beam collimation by submicron dielectric particles. Journal of Applied Physics , 2013 , 114. р. 103104.

Анзулевич А.П., Бутько Л.Н., Моисеев С.Г., Бучельников В.Д., Бычков И. В. Электромагнитное моделирование композита из проводящих сферических включений. Известия Самарского научного центра РАН , 2013 , 15 (4(3)). С. 769-773.

Бутько Л.Н., Анзулевич А.П., Лихарев Д.С., Моисеев С.Г. Электродинамические свойства структуры, образованной регулярной решеткой проводящих цилиндров. Вестник Челябинского государственного университета , 2013 (9). С. 11-17.

Моисеев С.Г., Явтушенко М.С., Явтушенко И.О., Жуков А.В. Антиотражающее покрытие с металлическими наночастицами. Известия Самарского научного центра РАН , 2013 , 15 (4(3)). С. 749-754.

Сергеев В.А. Анализ тепловых режимов мощных светодиодов в составе светодиодных излучателей. Известия вузов. Электроника , 2013 (1). С. 85-87.

Сергеев В.А., Рогов В.Н., Ульянов А.Н. Сравнительный анализ аппроксимирующих функций для спектральных характеристик серийных светодиодов. Измерительная техника , 2013 (10). С. 27-29.

Сергеев В.А., Рогов В.Н., Ульянов А.Н. Методические погрешности определения параметров спектра светодиодов двумя фотоприемниками. Измерительная техника , 2013 (4). С. 42-44.

Сергеев В.А., Фролов И.В. Погрешность измерения дифференциального сопротивления нелинейных двухполюсников. Измерительная техника , 2013 (12). С. 45-49.

Сергеев В.А., Фролов И.В. Выбор оптимальных частот при измерении параметров трехэлементного двухполюсника. Радиоэлектронная техника: межвузовский сборник научных трудов , 2013 . С. 104-109.

Сергеев В.А., Фролов И.В., Широков А.А. Связь снижения квантовой эффективности InGaN/GaN светодиодов при испытаниях с особенностями вольт-фарадных характеристик. Нелинейный мир , 2013 (2). С. 90-91.

Сергеев В.А., Фролов И.В., Широков А.А., Низаметдинов А.М. Связь характеристик низкочастотного шума светодиодов с распределением концентрации примесей и плотности тока в гетероструктурах. Нелинейный мир , 2013 (7). С. 493-498.

Сергеев В.А., Ходаков А.М. Исследование и оценка адекватности нелинейных тепловых моделей мощных биполярных полупроводниковых приборов. Известия Самарского научного центра РАН , 2013 , 15 (6). С. 69-76.

Смирнов В.И., Сергеев В.А., Гавриков А.А., Корунов Д.И. Аппаратно-программный комплекс для измерения теплового импеданса светодиодов. Приборы и техника эксперимента , 2013 (1). С. 135-136.

Фролов И.В., Широков А.А. Низкочастотные шумы приповерхностной области полупроводниковых структур. Радиоэлектронная техника: межвузовский сборник научных трудов , 2013 . С. 58-63.

Шалин А.С., Сухов С.В. Оптический ускоритель наночастиц. Нелинейный мир , 2013 , 11 (2). С. 82-83. ISSN ISSN 2070-0970

Доклад на конференции или семинаре

Резчиков С.Е., Сергеев В.А. Способ снижения погрешности измерения низкочастотного электрического шума светоизлучающих диодов. In: 15-я всероссийская молодежная конференция Физика полупроводников и наноструктур, полупроводниковая опто- и наноэлектроника, 25-29 ноября 2013 года,, Санкт-Петербург , СПб. : Изд-во политехнического университета , р. 75.

Резчиков С.Е., Сергеев В.А. Адаптивный алгоритм измерения спектральной плотности мощности низкочастотного шума полупроводниковых приборов. In: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения: международная науч.-техн. конференция «INTERMATIC-2013», 2 – 6 декабря 2013 г, М.: МИРЭА , М.: МИРЭА , С. 168-169.

Резчиков С.Е., Сергеев В.А. Автоматизация установки для измерения мощности шума активных четырехполюсников методом удвоения. In: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения: международная науч.-техн. конференция «INTERMATIC-2013», 2 – 6 декабря 2013 г, М.: МИРЭА , М.: МИРЭА

Сергеев В.А., Фролов И.В. Измерение параметров схем замещения многоэлементных двухполюсников методом импедансной спектроскопии с применением шумового тестового сигнала. In: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения: международная науч.-техн. конференция «INTERMATIC-2013»,, 2 – 6 декабря 2013 г, М.: МИРЭА , М.: МИРЭА , С. 72-75.

Сергеев В.А., Фролов И.В., Широков А.А. Анализ токовых зависимостей низкочастотного шума светодиодов на основе двух-секционной шумовой эквивалентной схемы. In: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения «ИНТЕРМАТИК-2014»: доклады международной научно-технической конференции, 1-5 декабря 2014, М. : МИРЭА , М. : МИРЭА , -.

Сергеев В.А., Фролов И.В., Широков А.А. Исследование процессов деградации светодиодов AlInGaP/GaAs и их взаимосвязи с параметрами низкочастотного шума. In: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения: международная науч.-техн. конференция «INTERMATIC-2013»,, 2 – 6 декабря 2013 г..–, М.: МИРЭА , М.: МИРЭА , С. 30-33.

Ульянов А.В., Сергеев В.А., Рогов В.Н. Анализ влияния мультипликативных шумов на процесс измерения цветности светоизлучающих диодов. In: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения: международная науч.-техн. конференция «INTERMATIC-2013»,, 2 – 6 декабря 2013 г..–, М.: МИРЭА , М.: МИРЭА , С. 174-177.

Патент

ООО «Сампол», ООО «Центр инновации и кооперации» Патент 2492939. Ультрафиолетовый светодиодный облучатель. Патент 2492939, заявка 2012106956, 2013.

Ульяновский государственный технический университет Патент 2490657. Способ определения теплового сопротивления цифровых интегральных микросхем. Патент 2490657, заявка 2011143924, 2013.

Этот список был создан Fri May 3 11:15:34 2024 GMT-3.