Объекты для подразделения "УФ-2 лаб. твердотельной электроники, опто- и наноэлектроники" с годом 2013

На уровень вверх
Экспорт в [feed] Atom [feed] RSS 1.0 [feed] RSS 2.0
Группировка по: Авторы | Тип объекта | Нет группировки
Количество объектов: 27.

Sergeev V. A.,, Rogov V.N., Ulyanov A.V. Systematic errors when determining the parameters of the spectrum of light-emitting diodes using two photoreceivers. Measurement techniques , 2013 , 56 (4). С. 415-420.

Shalin A.S., Nikitov S.A. Approximate Model for Universal Broadband Antireflection Nano-Structure. Progress in Electromagnetic Research B , 2013 (47). С. 127-144.

Shalin A.S., Sukhov S.V. Plasmonic Nanostructures as Accelerators for Nanoparticles: Optical Nanocannon. Plasmonics. - 2013. - Vol. 8. Issue 2. - P. 625-629. , 2013 , 8 (2). С. 625-629.

Simovski C. R., Shalin A.S., Voroshilov P.M., Belov P.A. Photovoltaic absorption enhancement in thin-film solar cells by non-resonant beam collimation by submicron dielectric particles. Journal of Applied Physics , 2013 , 114. р. 103104.

Анзулевич А.П., Бутько Л.Н., Моисеев С.Г., Бучельников В.Д., Бычков И. В. Электромагнитное моделирование композита из проводящих сферических включений. Известия Самарского научного центра РАН , 2013 , 15 (4(3)). С. 769-773.

Бутько Л.Н., Анзулевич А.П., Лихарев Д.С., Моисеев С.Г. Электродинамические свойства структуры, образованной регулярной решеткой проводящих цилиндров. Вестник Челябинского государственного университета , 2013 (9). С. 11-17.

Моисеев С.Г., Явтушенко М.С., Явтушенко И.О., Жуков А.В. Антиотражающее покрытие с металлическими наночастицами. Известия Самарского научного центра РАН , 2013 , 15 (4(3)). С. 749-754.

Резчиков С.Е., Сергеев В.А. Способ снижения погрешности измерения низкочастотного электрического шума светоизлучающих диодов. In: 15-я всероссийская молодежная конференция Физика полупроводников и наноструктур, полупроводниковая опто- и наноэлектроника, 25-29 ноября 2013 года,, Санкт-Петербург , СПб. : Изд-во политехнического университета , р. 75.

Резчиков С.Е., Сергеев В.А. Адаптивный алгоритм измерения спектральной плотности мощности низкочастотного шума полупроводниковых приборов. In: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения: международная науч.-техн. конференция «INTERMATIC-2013», 2 – 6 декабря 2013 г, М.: МИРЭА , М.: МИРЭА , С. 168-169.

Резчиков С.Е., Сергеев В.А. Автоматизация установки для измерения мощности шума активных четырехполюсников методом удвоения. In: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения: международная науч.-техн. конференция «INTERMATIC-2013», 2 – 6 декабря 2013 г, М.: МИРЭА , М.: МИРЭА

Сергеев В.А. Анализ тепловых режимов мощных светодиодов в составе светодиодных излучателей. Известия вузов. Электроника , 2013 (1). С. 85-87.

Сергеев В.А., Рогов В.Н., Ульянов А.Н. Сравнительный анализ аппроксимирующих функций для спектральных характеристик серийных светодиодов. Измерительная техника , 2013 (10). С. 27-29.

Сергеев В.А., Рогов В.Н., Ульянов А.Н. Методические погрешности определения параметров спектра светодиодов двумя фотоприемниками. Измерительная техника , 2013 (4). С. 42-44.

Сергеев В.А., Фролов И.В. Погрешность измерения дифференциального сопротивления нелинейных двухполюсников. Измерительная техника , 2013 (12). С. 45-49.

Сергеев В.А., Фролов И.В. Выбор оптимальных частот при измерении параметров трехэлементного двухполюсника. Радиоэлектронная техника: межвузовский сборник научных трудов , 2013 . С. 104-109.

Сергеев В.А., Фролов И.В. Измерение параметров схем замещения многоэлементных двухполюсников методом импедансной спектроскопии с применением шумового тестового сигнала. In: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения: международная науч.-техн. конференция «INTERMATIC-2013»,, 2 – 6 декабря 2013 г, М.: МИРЭА , М.: МИРЭА , С. 72-75.

Сергеев В.А., Фролов И.В., Широков А.А. Анализ токовых зависимостей низкочастотного шума светодиодов на основе двух-секционной шумовой эквивалентной схемы. In: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения «ИНТЕРМАТИК-2014»: доклады международной научно-технической конференции, 1-5 декабря 2014, М. : МИРЭА , М. : МИРЭА , -.

Сергеев В.А., Фролов И.В., Широков А.А. Исследование процессов деградации светодиодов AlInGaP/GaAs и их взаимосвязи с параметрами низкочастотного шума. In: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения: международная науч.-техн. конференция «INTERMATIC-2013»,, 2 – 6 декабря 2013 г..–, М.: МИРЭА , М.: МИРЭА , С. 30-33.

Сергеев В.А., Фролов И.В., Широков А.А. Связь снижения квантовой эффективности InGaN/GaN светодиодов при испытаниях с особенностями вольт-фарадных характеристик. Нелинейный мир , 2013 (2). С. 90-91.

Сергеев В.А., Фролов И.В., Широков А.А., Низаметдинов А.М. Связь характеристик низкочастотного шума светодиодов с распределением концентрации примесей и плотности тока в гетероструктурах. Нелинейный мир , 2013 (7). С. 493-498.

Сергеев В.А., Ходаков А.М. Исследование и оценка адекватности нелинейных тепловых моделей мощных биполярных полупроводниковых приборов. Известия Самарского научного центра РАН , 2013 , 15 (6). С. 69-76.

ООО «Сампол», ООО «Центр инновации и кооперации» Патент 2492939. Ультрафиолетовый светодиодный облучатель. Патент 2492939, заявка 2012106956, 2013.

Смирнов В.И., Сергеев В.А., Гавриков А.А., Корунов Д.И. Аппаратно-программный комплекс для измерения теплового импеданса светодиодов. Приборы и техника эксперимента , 2013 (1). С. 135-136.

Ульянов А.В., Сергеев В.А., Рогов В.Н. Анализ влияния мультипликативных шумов на процесс измерения цветности светоизлучающих диодов. In: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения: международная науч.-техн. конференция «INTERMATIC-2013»,, 2 – 6 декабря 2013 г..–, М.: МИРЭА , М.: МИРЭА , С. 174-177.

Фролов И.В., Широков А.А. Низкочастотные шумы приповерхностной области полупроводниковых структур. Радиоэлектронная техника: межвузовский сборник научных трудов , 2013 . С. 58-63.

Шалин А.С., Сухов С.В. Оптический ускоритель наночастиц. Нелинейный мир , 2013 , 11 (2). С. 82-83. ISSN ISSN 2070-0970

Ульяновский государственный технический университет Патент 2490657. Способ определения теплового сопротивления цифровых интегральных микросхем. Патент 2490657, заявка 2011143924, 2013.

Этот список был создан Sun Dec 22 23:25:38 2024 GMT-3.