На уровень вверх |
Sergeev V. A.,, Frolov I.V., Mukhometzianov R.N. Apparatus for measuring the capacitance-voltage characteristics of semiconductor devices with an extended frequency range. In: International Conference on Actual Problems of Electron Devices Engineering, APEDE 2014, 25-26 сентября 2014 г.,, Материалы совещания, Саратов, Россия. , С. 181-182.