Объекты, где автором является "Alff L"

Статья

Zwiebler M, Hamann-Borrero J E, Vafaee M, Komissinskiy P, Macke S, Sutarto R, He F, Büchner B, Sawatzky G A, Alff L, Geck J Electronic depth profiles with atomic layer resolution from resonant soft x-ray reflectivity. New Journal of Physics , 2015 , 17 (8). 083046. ISSN 1367-2630