 | На уровень вверх |
Смирнов В.И., Ходаков А.М., Гавриков А.А. Исследование процессов теплопередачи между кристаллом кремния и медной подложкой. Автоматизация процессов управления , 2023 .
Смирнов В.И., Ходаков А.М., Гавриков А.А. Теплоэлектрические процессы в многокристальных системах. Журнал радиоэлектроники. – 2023. – №. 11. , 2023 . ISSN ISSN 1684-1719
Смирнов В.И., Ходаков А.М., Гавриков А.А. Моделирование теплоэлектрических процессов в силовых модулях на MOSFET-транзисторах. РЭНСИТ: Радиоэлектроника. Наносистемы. Информационные технологии, 2023, 15(2)117-124 , 2023 .
Смирнов В.И., Сергеев В.А., Гавриков А.А. Особенности измерения теплового сопротивления мощных солнечных батарей. Журнал радиоэлектроники [электронный ресурс] . – 2021. – № 4. – С. 1–13. , 2021 .
Ходаков А.М., Смирнов В.И., Сергеев В.А., Гавриков А.А. Моделирование теплоэлектрических процессов в полупроводниковой структуре солнечного элемента. V Международная конференция и молодежная школа "Информационные технологии и нанотехнологии (ИТНТ-2019)" , (Самара 21-24 мая 2019г.). – С. 231-234. , 2019 .
Гавриков А.А., Смирнов В.И. Измерительный комплекс для определения теплового сопротивления элементов. VIII Международная молодежная научная школа-конференция НИЯУ МИФИ «Современные проблемы физики и технологий», (Москва 15 - 20 апреля 2019 года) . , 2019 .
Сергеев В.А., Ходаков А.М., Смирнов В.И. Теплоэлектрическая модель полупроводниковой структуры солнечного элемента. Радиоэлектронная техника: межвузовский сборник научных трудов. – Ульяновск : УлГТУ, 2019. – С. 48-53. , 2019 .
Смирнов В.И., Сергеев В.А., Гавриков А.А., Куликов А.А., ШОРИН А.М. Сравнительный анализ стандартного и модуляционного методов измерения теплового сопротивления мощных биполярных транзисторов. Журнал радиоэлектроники [электронный журнал].- 2019.- № 1. , 2019 . ISSN ISSN 1684-1719
Смирнов В.И., Сергеев В.А., Гавриков А.А., ШОРИН А.М. Измерение перекрестных тепловых сопротивлений силовых модулей. Журнал радиоэлектроники [электронный журнал] [электронный журнал] .- 2019.- № 7. -С. 13. , 2019 . ISSN ISSN 1684-1719
Сергеев В.А., Смирнов В.И., ТАРАСОВ Р.Г. ПРОБЛЕМЫ И ВОЗМОЖНОСТИ ДИАГНОСТИКИ КАЧЕСТВА ЭЛЕКТРОННЫХ МОДУЛЕЙ ПО ТЕПЛОВЫМ ХАРАКТЕРИСТИКАМ. Автоматизация процессов управления. , 2017 (4). р. 108.
Смирнов В.И., Сергеев В.А., Гавриков А.А., ШОРИН А.М. Измерение теплового импеданса мощных транзисторов. РАДИОТЕХНИКА , 2017 (6). С. 83-90. ISSN 0033-8486
Смирнов В.И., Сергеев В.А., Гавриков А.А. Измерение теплового импеданса светодиодов и светодиодных матриц. Измерительная техника , 2017 (1). С. 33-36. ISSN 0368-1025
Смирнов В.И., Гавриков А.А., ШОРИН А.М. Метод измерения компонент теплового сопротивления полупроводниковых приборов и его практическая реализациям. Автоматизация процессов управления , 2017 (2(48)). С. 96-103. ISSN 1991-2927
Смирнов В.И., Сергеев В.А., Гавриков А.А. Спектральный метод измерения теплового сопротивления светодиодов и оценка оптимальных режимов его реализации. Автоматизация процессов управления , 2014 (3). С. 31-37.
Смирнов В.И., Сергеев В.А., Гавриков А.А. Спектральный и временной методы измерения теплового сопротивления полупроводниковых приборов. Промышленные АСУ и контроллеры , 2014 (10). С. 58-63.
Закгейм АЛ, Черняков АЕ, Булашевич КА, Карпов СЮ, Сергеев В.А., Смирнов В.И. ТЕОРЕТИЧЕСКОЕ И ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЕ ИССЛЕДОВАНИЕ ТЕПЛОВЫХ ПРОЦЕССОВ В МОЩНЫХ ALINGAN СВЕТОДИОДАХ. Актуальные проблемы физической и функциональной электроники материалы 17-й Всероссийской молодежной научной школы-семинара , 2014 . р. 56.
Сергеев В.А., Смирнов В.И., Фролов И.В., Ходаков А.М. Закономерности и особенности токовых зависимостей теплового сопротивления переход-корпус мощных InGaN/GaN светодиодов. Ученые записки физического факультета МГУ , 2014 (2). р. 142303.
Смирнов В.И., Сергеев В.А., Гавриков А.А., Корунов Д.И. Аппаратно-программный комплекс для измерения теплового импеданса светодиодов. Приборы и техника эксперимента , 2013 (1). С. 135-136.
Гавриков А.А., Ходаков А.М., Смирнов В.И. Моделирование тепловых и термомеханических процессов в транзисторных модулях. In: 26-я Всероссийская молодежная научная конференция «Актуальные проблемы физической и функциональной электроники», 24-26 октября 2023 г., г.Ульяновск , С. 18-20.
Гавриков А.А., Ходаков А.М., Смирнов В.И. Измерение температуры перегрева кристалла транзисторного модуля. In: 26-я Всероссийская молодежная научная конференция «Актуальные проблемы физической и функциональной электроники», 24-26 октября 2023 г., г.Ульяновск , С. 21-23.
Сергеев В.А., Смирнов В.И., Ходаков А.М., Куликов А.А., Тарасов Р.Г. Диагностика неоднородного токораспределения в структурах мощных СВЧ транзисторов по теплоэлектрическим характеристикам. In: Международный симпозиум "Надежность и качество" , С. 139-142.
Гавриков А.А., Смирнов В.И., Шорин А.М. Измерение компонент теплового сопротивления мощных светодиодов. In: Современные проблемы физики и технологий: тезисы докладов V-й международной молодежной научной школы-конференции, 18 – 23 апреля 2016,, М.: НИЯУ МИФИ, , М.: НИЯУ МИФИ , С. 181-183.
