 | На уровень вверх |
Афанасьев М.С., Егоров Е.В., Егоров В.К., Чучева Г.В. Элементный анализ материалов методами ионно-пучковой диагностики. ПОВЕРХНОСТЬ. РЕНТГЕНОВСКИЕ, СИНХРОТРОННЫЕ И НЕЙТРОННЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ , 2021 (7). С. 73-77. ISSN 0207-3528
Афанасьев М.С., Егоров В.К., Егоров Е.В., Кухарская Н.Ф., Набиев А.Э., Нарышкина В.Г. Выход рентгенофлуоресценции при полном внешнем отражении, формируемого волноводом-резонатором в условиях ионно-пучкового возбуждения. Физика твёрдого тела , 2019 . ISSN 0367-3294
Афанасьев М.С., Егоров В.К., Егоров Е.В., Чучева Г.В. Элементный анализ материалов методами ионно-пучковой диагностики. In: Двенадцатое ежегодное заседание Научного Совета РАН по физике конденсированных сред и научно-практического семинара «Актуальные проблемы физики конденсированных сред» 29-30 октября 2019 г., 29-30 октября 2019, Институт физики твёрдого тела РАН, 2019 Научный центр РАН в Черног , р. 7.
Егоров В.К., Егоров Е.В., Афанасьев М.С. Анализ материалов в условиях ионно-пучкового возбуждения рентгенофлуоресценции. In: Труды XV Международной научно-технической конференции «Быстро закалённые материалы и покрытия», 16-17 октября 2018г., г. Москва, Россия , МАИ , С. 255-265.
Егоров В.К., Егоров Е.В., Афанасьев М.С. Особенности элементного анализа материалов и пленочных покрытий ионно-пучковыми диагностическими методами. In: XII Международная научно-техническая конференция «Вакуумная техника, материалы и технология», 11 – 13 апреля 2017 год, г. Москва, Россия (КВЦ "Сокольники")
Егоров В.К., Егоров Е.В., Афанасьев М.С. Изучение псевдоэпитаксиальных пленок золота и висмута на слюдяных подложках. In: 23 Международная конференция «Взаимодействие ионов с поверхностью (ВИП-2017)», 21-25 августа 2017 г., МИФИ, г. Москва, Россия , Издательство НИЯУ МИФИ , С. 91-95.
Егоров В.К., Егоров Е.В., Афанасьев М.С. Особенности диагностики легких элементов в материалах методами ионно-пучкового анализа. In: 3-й Съезд Аналитиков России, 8-13 октября 2017г., пос. Московский, г. Москва, Россия, , ГЕОХИ РАН , р. 163.
Егоров В.К., Егоров Е.В., Афанасьев М.С. Ионно-пучковая аналитическая технология определения легких элементов в материалах. In: 24-я научно-техническая конференция с участием зарубежных специалистов «Вакуумная наука и техника», 15-23 сентября 2017 г., г. Судак, Крым, Россия , Российское научно-техническое вакуумное общество им. С.А. Векшинского , С. 51-70.
Егоров В.К., Егоров Е.В., Афанасьев М.С. Наноаналитические возможности ионопучкового анализа материалов. In: 5 Международная научно-техническая конференция «Технологии микро- и наноэлектроники в микро- и наносистемной технике», 13-15 апреля 2016 г., г. Москва, Россия , С. 99-101.
Егоров В.К., Егоров Е.В., Афанасьев М.С. Возможности ионопучкового анализа объектов окружающей среды. In: X Всероссийская конференция по анализу объектов окружающей среды, 26 июня – 02 июля 2016 г., г. Углич, Россия , Филигрань , р. 53.
Егоров В.К., Егоров Е.В., Афанасьев М.С. Ионопучковое возбуждение выхода рентгенофлуоресценции при полном внешнем отражении, формируемого волноводом-резонатором. In: V Международный конгресс по радиационной физике, сильноточной электронике и модификации материалов «Потоки энергии и радиационные эффекты» (EFRE2016), 2-7 октября 2016 г ., г. Томск, Россия , р. 387.
Егоров В.К., Егоров Е.В., Афанасьев М.С. Структурная и элементная диагностика материалов методами ионопучковых аналитических технологий. In: Первый Российский кристаллографический конгресс (RCC-2016), 21-26 ноября 2016 г., г. Москва, Россия , НП-Принт , р. 445.
Егоров В.К., Егоров Е.В., Афанасьев М.С. Ионопучковый элементный анализ поверхностного слоя материалов. In: 11 Международная конференция «Вакуумная техника, материалы и технологии»., 12 - 14 апреля 2016 г., КВЦ «Сокольники», Москва, Россия , ОАО «НИИВТ» им. С.А.Веншинского , С. 42-46.
Егоров В.К., Афанасьев М.С., Руденко В.Н. РФА ПВО при ионопучковом возбуждении. In: 23-я всероссийская научно-техническая конференция с международным участием «Вакуумная техника и технологии – 2016», 2 – 9 июня 2016 г., г. Санкт-Петербург, Россия. , С. 27-29.
Афанасьев М.С., Егоров В.К., Егоров Е.В. Ионопучковая диагностика планарных структур нанофотоники и наноэлектроники. In: Международной научно-технической конференции INTERMATIC – 2015, 1 – 5 декабря 2015 г., г. Москва, Россия , МИРЭА , С. 31-39.
