"Устройство для поиска и характеризации поверхностных дефектов в оптических материалах"

1.Протасеня Д.В. 2.Рябушкин О.А. "Устройство для поиска и характеризации поверхностных дефектов в оптических материалах". 2019104048, 2019.

Полный текст не доступен из этого репозитория.

Тип объекта:	Патент
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl):	228 лаб. исследования материалов квантовой электроники
URI:	http://cplire.ru:8080/id/eprint/9544

Только для зарегистрированных пользователей

Изменить объект