Ульяновский государственный технический университет Патент 2766066 РФ . Способ измерения переходной тепловой характеристики интегральных микросхем. https://new.fips.ru/ofpstorage/Doc/IZPM/RUNWC1/000/000/002/766/066/%D0%98%D0%97-02766066-00001/document.pdf, 2022.
Полный текст не доступен из этого репозитория.
Официальный URL: https://new.fips.ru/ofpstorage/Doc/IZPM/RUNWC1/000...
Аннотация
Способ измерения переходной тепловой характеристики интегральных микросхем
| Тип объекта: | Патент |
|---|---|
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | УФ-2 лаб. твердотельной электроники, опто- и наноэлектроники |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/9465 |
 |
Изменить объект |
