Modeling of thermoelectric processes in a power MOSFET transistor with a structural defect

Sergeev V. A.,, Hodakov А.М., Kulikov A. A. A. A. Modeling of thermoelectric processes in a power MOSFET transistor with a structural defect. Journal of Physics: Conference Series. 2021. V. 1745.012041. , 2021 .

Полный текст не доступен из этого репозитория.

Аннотация

Modeling of thermoelectric processes in a power MOSFET transistor with a structural defect

Тип объекта: Статья
Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: Сергеев В.А., Ходаков А.М., Куликов А.А.
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): УФ-2 лаб. твердотельной электроники, опто- и наноэлектроники
URI: http://cplire.ru:8080/id/eprint/9358
Только для зарегистрированных пользователей
Изменить объект Изменить объект