Nizametdinov A.M., Chertoriyskiy A.A. Method of Measuring the Basic Parameters of an Oscillatory System by Means of Eigen Frequency Excitation. In: / 2020 Moscow Workshop on Electronic and Networking Technologies (MWENT), Moscow, Russia, 11-13 March 2020., 11-13 March 2020., Moscow
Полный текст не доступен из этого репозитория.
Официальный URL: DOI: 10.1109/MWENT47943.2020.9067424
Аннотация
Method of Measuring the Basic Parameters of an Oscillatory System by Means of Eigen Frequency Excitation
| Тип объекта: | Доклад на конференции или семинаре (Статья) |
|---|---|
| Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: | Низаметдинов А.М., Черторийский А.А. |
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | УФ-1 лаб. световолоконной техники и оптических измерений |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/9330 |
 |
Изменить объект |
