Sharath S. U., Joseph M. J., Vogel S., Hildebrandt E., Komissinskiy P., Kurian J., Schroeder T., Alff L. Impact of oxygen stoichiometry on electroforming and multiple switching modes in TiN/TaOx/Pt based ReRAM. Applied Physics Letters , 2016 , 109 (17). р. 173503. ISSN 0003-6951
Полный текст не доступен из этого репозитория.
Официальный URL: https://doi.org/10.1063/1.4965872
| Тип объекта: | Статья |
|---|---|
| Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: | Комиссинский Ф. |
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | 233 лаб. физических основ функциональной тонкопленочной оксидной электроники |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/5988 |
 |
Изменить объект |
