Еськин С.В., Ушаков Н.М. Наноструктуированные антиотражающие покрытия на основе аморфного диоксида кремния для силикатного стекла и фотоэлектрических преобразователей. РАДИОТЕХНИКА , 2014 , 12 (2). С. 59-60. ISSN 0033-8486
|
Текст
Ст. Просв покрытия на SiO2_Нелин мир.pdf Загрузить (1MB) | Предварительный просмотр |
| Тип объекта: | Статья |
|---|---|
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | СФ-3 лаб. субмикронной электроники |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/5755 |
 |
Изменить объект |
