Mamedov N.V., Prokhorovich D.E., Kanshin I.A., Solodovnikov A.A., Kolodko D.V., Sorokin I.A. Comparison of the ion beam profile measuring methods. AIP Conference Proceedings 2011, 080006 , 2018 .
Полный текст не доступен из этого репозитория.
Официальный URL: https://doi.org/10.1063/1.5053361
| Тип объекта: | Статья |
|---|---|
| Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: | Мамедов Н.В., Прохорович Д.Е., Каншин И.А., Солодовников А.А., Колодко Д.В., Сорокин И.А. |
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | 216 лаб. технологических процессов твердотельной электроники |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/5744 |
 |
Изменить объект |
