Ilin A.S., Cohn I.A., Vystavkin A. N., Kovalenko A.G. Thin-film ruthenium microstructures for transition edge sensors. In: Международная конференция "Микро- и наноэлектроника – 2016" (ICMNE-2016)
|
Текст
ilin_ire_ras-abstract_icmne2016.pdf Загрузить (327kB) | Предварительный просмотр |
| Тип объекта: | Доклад на конференции или семинаре (Доклад) |
|---|---|
| Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: | Ильин А.С., Кон И.А., Выставкин А.Н., Коваленко А.Г. |
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | 194 лаб. низкоразмерных атомных структур 235 темгр. сверхпроводниковых субмиллиметровых микроболометров на разогреве электронов |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/5275 |
 |
Изменить объект |
