Using Variations in the Frequency of a Ring Oscillator to Measure the Thermal Resistance of Digital Integrated Circuits

Sergeev V. A., Teten'kin Ya. G Using Variations in the Frequency of a Ring Oscillator to Measure the Thermal Resistance of Digital Integrated Circuits. MEASUREMENT TECHNIQUES , 2018 , 61 (2). С. 154-160.

Полный текст не доступен из этого репозитория.

Аннотация

Using Variations in the Frequency of a Ring Oscillator to Measure the Thermal Resistance of Digital Integrated Circuits

Тип объекта:	Статья
Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!:	Сергеев В.А., Тетенькин Я.
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl):	УФ-2 лаб. твердотельной электроники, опто- и наноэлектроники
URI:	http://cplire.ru:8080/id/eprint/5206

Только для зарегистрированных пользователей

Изменить объект