Банков С.Е. Двумерные бифокальные сфокусированные решетки с частотным сканированием. In: НТК «V Микроволновая неделя», 29 ноября - 1 декабря 2017, Россия, Москва , ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН , С. 175-179.
Полный текст не доступен из этого репозитория.Аннотация
Исследована двумерная сфокусированная в ближней зоне решетка с частотным сканированием. Предложен метод синтеза решетки, обеспечивающий идеальную фокусировку поля в двух точках на двух частотах. При помощи приближенной модели проведено исследование решетки при сканировании в двух главных плоскостях продольной и поперечной. Изучена траектория движения фокального пятна – дуга сканирования и оптические аберрации, связанные со сканированием. Рассмотрены разные варианты определения дуги сканирования по критерию максимума поля и по критерию максимума коэффициента использования поверхности решетки. Показано, что применение бифокальных решеток позволяет улучшить основные показатели качества по сравнению с однофокальными решетками.
| Тип объекта: | Доклад на конференции или семинаре (Доклад) |
|---|---|
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | 113 лаб. электродинамики композиционных сред и структур |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/5042 |
 |
Изменить объект |
