Банков Сергей, Дупленкова М. Д. Однофокальные сфокусированные решетки с частотным сканированием. In: НТК «V Микроволновая неделя», 29ноября - 1 декабря 2017, Россия, Москва , ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН , С. 176-180.
Полный текст не доступен из этого репозитория.Аннотация
Рассмотрены двумерные однофокальные решетки элементарных излучателей с частотным сканированием сфокусированные в зоне Френеля. Решены задачи синтеза расположения излучателей в плоской апертуре для разных типов решеток. Проведен приближенный анализ поля излучения в рамках модели заданных токов, которые формируются системой возбуждения в виде параллельных линий передачи, в которые включены элементарные излучатели. Исследованы траектории движения фокальных пятен – дуги сканирования при сканировании в двух главных плоскостях: параллельной и перпендикулярной осям линий передачи. Рассмотрены разные определения дуг сканирования: по максимуму поля и по максимуму энергетической эффективности.
| Тип объекта: | Доклад на конференции или семинаре (Доклад) |
|---|---|
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | 113 лаб. электродинамики композиционных сред и структур |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/5040 |
 |
Изменить объект |
