Belorusov D. A., Goldman E.I., Chucheva G.V. Reasons for the weak manifestation of the field effect in metal-Ba1-хSrхTiO3-Si structures. In: 14-ая Межд.конф. “Микро - и наноэлектроника – 2021” (ICMNE-2021), 4-8 октября, Звенигород, Московская область, Россия , р. 90.
|
Текст
elibrary_466.pdf Загрузить (519kB) | Предварительный просмотр |
| Тип объекта: | Доклад на конференции или семинаре (Другой) |
|---|---|
| Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: | Белорусов Д.А., Гольдман Е.И., Чучева Г.В, |
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | 251 лаб. исследования физических явлений на поверхности и границах раздела твердых тел |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/9929 |
 |
Изменить объект |
