«Устройство для поиска и характеризации поверхностных дефектов в оптических материалах».

Протасеня Д.В., Рябушкин О.А. «Устройство для поиска и характеризации поверхностных дефектов в оптических материалах». № 2708708, 2019.

Полный текст не доступен из этого репозитория.

Тип объекта:	Патент
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl):	228 лаб. исследования материалов квантовой электроники
URI:	http://cplire.ru:8080/id/eprint/9912

Только для зарегистрированных пользователей

Изменить объект