Сизов В.Е., Борисов В.И., Кузнецов П.И., Ткач Ю.Я. Выявление поверхностных состояний в топологических изоляторах Bi2-xSbxTe3-ySey по магнитотранспортным измерениям. Физика твёрдого тела , 2019 , 61 (2). С. 239-242. ISSN 0367-3294
Это последняя версия данного объекта.
Аннотация
С целью выявления электронных поверхностных состояний в пленках топологических изоляторов Bi2-xSbxTe3-ySey различного состава исследовалось влияние магнитного поля и температуры на их проводимость. Экспериментальные данные могут быть объяснены в рамках модели с двумя типами носителей заряда. В объеме пленки наблюдается термоактивационная проводимость, электронная или дырочная, в зависимости от состава образца, а на поверхности имеются металлоподобные электронные состояния. Заметный вклад поверхностных топологических состояний в величину общей проводимости открывает возможность их исследования. Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки РФ (базовая часть государственного задания), при частичной поддержке РФФИ (проекты № 17-07-00241А и № 17-02-00309) и программ РАН.
Тип объекта: | Статья |
---|---|
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | 196 лаб. спин-волновых процессов в миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах длин волн 199 лаб. теоретических проблем микроэлектроники 218 лаб. химических методов технологии и анализа |
URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/9904 |
Доступные версии этого объекта
-
Выявление поверхностных состояний в топологических изоляторах Bi2-xSbxTe3-ySey по магнитотранспортным измерениям. (deposited 12 Ноя 2018 08:53)
- Выявление поверхностных состояний в топологических изоляторах Bi2-xSbxTe3-ySey по магнитотранспортным измерениям. (deposited 09 Ноя 2023 11:12) [В настоящее время Отображен]
Изменить объект |