1.Протасеня Д.В. 2.Рябушкин О.А. "Устройство для поиска и характеризации поверхностных дефектов в оптических материалах". 2019104048, 2019.
Полный текст не доступен из этого репозитория.| Тип объекта: | Патент |
|---|---|
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | 228 лаб. исследования материалов квантовой электроники |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/9544 |
 |
Изменить объект |
