Патент 2766066 РФ . Способ измерения переходной тепловой характеристики интегральных микросхем

Ульяновский государственный технический университет Патент 2766066 РФ . Способ измерения переходной тепловой характеристики интегральных микросхем. https://new.fips.ru/ofpstorage/Doc/IZPM/RUNWC1/000/000/002/766/066/%D0%98%D0%97-02766066-00001/document.pdf, 2022.

Полный текст не доступен из этого репозитория.

Официальный URL: https://new.fips.ru/ofpstorage/Doc/IZPM/RUNWC1/000...

Аннотация

Способ измерения переходной тепловой характеристики интегральных микросхем

Тип объекта:	Патент
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl):	УФ-2 лаб. твердотельной электроники, опто- и наноэлектроники
URI:	http://cplire.ru:8080/id/eprint/9465

Только для зарегистрированных пользователей

Изменить объект

Репозиторий "Каталог публикаций ИРЭ им. В.А.Котельникова РАН" создан на платформе EPrints 3 которая разработана Школой электроники и компьютерных наук в Университете Саутгемптона. Более подробная информация и разработчики программного обеспечения.