Пятайкин И.И. Влияние внутреннего размерного эффекта в поликристаллических плёнках металлов на коэффициенты отражения, прохождения и поглощения в них электромагнитных волн СВЧ диапазона. Журнал радиоэлектроники , 2020 (10). С. 1-29. ISSN 1684-1719
|
Текст
JRE_2020_published version.pdf - Опубликованная версия Загрузить (981kB) | Предварительный просмотр |
Аннотация
Исследовано влияние классического размерного эффекта на коэффициенты R, T и A, характеризующие отражение, прохождение и поглощение электромагнитных волн СВЧ диапазона поликристаллическими плёнками металлов. На примере плёнок золота, в статье рассматривается влияние внутреннего размерного эффекта, обусловленного их поликристаллической структурой, на величину параметра d_pk, определяющего зависимости коэффициентов R, T и A от толщины плёнки. Обнаружено, что в зависимости от величины коэффициента отражения электронов от межкристаллитных границ, параметр d_pk, рассчитанный с использованием теории внутреннего размерного эффекта Маядеса-Шацкеса-Джэнека (МШД), отличается в два - пять раз от тех значений, которые получаются при расчётах, опирающихся на использование теории внешнего размерного эффекта Фукса-Зондгеймера. Установлена зависимость d_pk от параметров, определяющих скорость роста и предельно достижимые размеры кристаллитов, позволившая выявить влияние микроструктуры плёнок на зависимости коэффициентов R, T и A от толщины. Опираясь на обнаруженный характер зависимости d_pk от параметров теории МШД и структурных параметров плёнки, предложены рекомендации, позволяющие выбирать металлы, наиболее оптимальные для покрытий электромагнитной защиты.
| Тип объекта: | Статья |
|---|---|
| Дополнительная информация: | The influence of size effect on the R, T, and A coefficients characterizing reflection, transmission, and absorption of microwaves by polycrystalline metal films is studied. Using the example of gold films, the article examines the influence of internal size effect due to their polycrystalline structure on the value of the parameter d_pk that determines the dependence of the R, T and A coefficients on the film thickness. It was found that, depending on the value of the reflection coefficient of electrons striking the grain boundaries, parameter d_pk calculated using the Mayadas-Shatzkes-Janak (MSJ) theory for grain size effect differs by two to five times from that obtained in calculations based on the use of the Fuchs-Sondheimer theory for thickness size effect. The dependence of d_pk on the parameters determining the grain growth rate and limiting grain size has been established, which made it possible to reveal the effect of the film microstructure on the dependence of the R, T and A coefficients on the film thickness. Based on the revealed character of the dependence of d_pk on the parameters of the MSJ theory and the structural parameters of the film, recommendations are proposed for choosing the metals that are most optimal for producing coatings for electromagnetic interference shielding. |
| Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: | Пятайкин И.И. |
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | 171 лаб. полупроводниковых приборов |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/7892 |
 |
Изменить объект |
