Элементный анализ материалов методами ионно-пучковой диагностики.

Афанасьев М.С., Егоров В.К., Егоров Е.В., Чучева Г.В. Элементный анализ материалов методами ионно-пучковой диагностики. In: Двенадцатое ежегодное заседание Научного Совета РАН по физике конденсированных сред и научно-практического семинара «Актуальные проблемы физики конденсированных сред» 29-30 октября 2019 г., 29-30 октября 2019, Институт физики твёрдого тела РАН, 2019 Научный центр РАН в Черног , р. 7.

Текст № 14_Афанасьев_Элементный_Черноголовка_2019thesis_15_10_19.doc Загрузить (32kB)

Аннотация

В работе приведены технические и аналитические параметры ионно-пучковых аналитических комплексов и охарактеризованы представляемые этими комплексами экспериментальные методы исследования различных материалов.

Тип объекта:	Доклад на конференции или семинаре (Доклад)
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl):	251 лаб. исследования физических явлений на поверхности и границах раздела твердых тел
URI:	http://cplire.ru:8080/id/eprint/7833

Только для зарегистрированных пользователей

Изменить объект