Холловский микроскоп для исследования высокотемпературных сверхпроводников

Ростами Х. Р. Холловский микроскоп для исследования высокотемпературных сверхпроводников. Приборы и техника эксперимента , 2019 (3). С. 150-156. ISSN 0032-8162

Полный текст не доступен из этого репозитория. (Заказать копию)

Аннотация

На основе преобразователей Холла разработан трехмерный растровый микроскоп с магнитной чувствительностью ~2.5 ⋅ 10–3 Гс/Гц1/2. Динамический диапазон микроскопа по магнитному полю составляет от 10–3 до ±3 ⋅ 103 Гс. Стабильность величины заданного магнитного поля лучше чем 10–5 Гс. Минимальная величина магнитного поля при его ступенчатом задании составляет 10–3 Гс. Максимальный размер площади обзора исследуемых объектов 5 × 5 мм2. Минимальные размеры шага сканирования по осям Х, Y составляют 10 и 1 мкм соответственно при грубом и плавном перемещении столиков. Максимальный размер перемещения по оси Z равен 25 мм с минимальным шагом сканирования 10 и 1 мкм соответственно при грубом и плавном перемещении. Микроскоп позволяет создавать аппаратную функцию произвольной формы за счет комбинации заданных величин: температуры, транспортного тока, постоянного магнитного поля и осциллирующего, затухающего во времени, переменного магнитного поля. Приведены примеры применения микроскопа для исследования высокотемпературных сверхпроводников BSCCO и YBCO.

Тип объекта: Статья
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): 258 лаб. исследования СВЧ свойств ферромагнитных материалов
URI: http://cplire.ru:8080/id/eprint/7453
Только для зарегистрированных пользователей
Изменить объект Изменить объект