Measurement of dielectric loss at millimeter range in the low loss materials with arbitrary ratio of wavelength and sample thickness

Chigryai E. E., Garin B. M., Denisyuk R. N. Measurement of dielectric loss at millimeter range in the low loss materials with arbitrary ratio of wavelength and sample thickness. Journal of Radio Electronics , 2018 (10). С. 1684-1719. ISSN 16841719

Полный текст не доступен из этого репозитория.
Официальный URL: http://jre.cplire.ru/jre/oct18/10/text.pdf
Тип объекта: Статья
Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: Чигряй Е. Е., Гарин Б. М., Денисюк Р. Н.
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): 138 лаб. метрики миллиметровых и субмиллиметровых волн
139 лаб. оптических волноводных систем
URI: http://cplire.ru:8080/id/eprint/6403
Только для зарегистрированных пользователей
Изменить объект Изменить объект