Выявление поверхностных состояний в топологических изоляторах Bi2-xSbxTe3-ySey по магнитотранспортным измерениям

Сизов В.Е., Борисов В.И., Кузнецов П.И., Ткач Ю.Я. Выявление поверхностных состояний в топологических изоляторах Bi2-xSbxTe3-ySey по магнитотранспортным измерениям. Физика твёрдого тела , 2019 , 61 (2). С. 539-542. ISSN 0367-3294

Полный текст не доступен из этого репозитория. (Заказать копию)

Аннотация

С целью выявления электронных поверхностных состояний в пленках топологических изоляторов Bi2-xSbxTe3-ySey различного состава исследовалось влияние магнитного поля и температуры на их проводимость. Экспериментальные данные могут быть объяснены в рамках модели с двумя типами носителей заряда. В объеме пленки наблюдается термоактивационная проводимость, электронная или дырочная, в зависимости от состава образца, а на поверхности имеются металлоподобные электронные состояния. Заметный вклад поверхностных топологических состояний в величину общей проводимости открывает возможность их исследования. Работа выполнена при финансовой поддержке Министерства образования и науки РФ (базовая часть государственного задания), при частичной поддержке РФФИ (проекты № 17-07-00241А и № 17-02-00309) и программ РАН.

Тип объекта: Статья
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): 196 лаб. спин-волновых процессов в миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах длин волн
199 лаб. теоретических проблем микроэлектроники
218 лаб. химических методов технологии и анализа
URI: http://cplire.ru:8080/id/eprint/6372

Доступные версии этого объекта

Только для зарегистрированных пользователей
Изменить объект Изменить объект