Zwiebler M, Hamann-Borrero J E, Vafaee M, Komissinskiy P, Macke S, Sutarto R, He F, Büchner B, Sawatzky G A, Alff L, Geck J Electronic depth profiles with atomic layer resolution from resonant soft x-ray reflectivity. New Journal of Physics , 2015 , 17 (8). 083046. ISSN 1367-2630
Полный текст не доступен из этого репозитория.
Официальный URL: https://doi.org/10.1088/1367-2630/17/8/083046
| Тип объекта: | Статья |
|---|---|
| Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: | Комиссинский Ф.В. |
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | 233 лаб. физических основ функциональной тонкопленочной оксидной электроники |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/5992 |
 |
Изменить объект |
