"Определение температуры поверхности диэлектриков методом радиочастотной импедансной спектроскопии"

Коваленко Н. В., Алоян Г. А., Рябушкин О. А. "Определение температуры поверхности диэлектриков методом радиочастотной импедансной спектроскопии". Труды 60-ой Научной конференции МФТИ , 2017 .

Полный текст не доступен из этого репозитория.
Тип объекта: Статья
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): 228 лаб. исследования материалов квантовой электроники
URI: http://cplire.ru:8080/id/eprint/5866
Только для зарегистрированных пользователей
Изменить объект Изменить объект