Коваленко Н. В., Алоян Г. А., Рябушкин О. А. "Определение температуры поверхности диэлектриков методом радиочастотной импедансной спектроскопии". Труды 60-ой Научной конференции МФТИ , 2017 .
Полный текст не доступен из этого репозитория.Тип объекта: | Статья |
---|---|
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | 228 лаб. исследования материалов квантовой электроники |
URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/5866 |
Изменить объект |