Measurements of the Ion-Beam Current Distribution over a Target Surface under a High Bias Potential.

Mamedov N.V., Prokhorovich D.E., Yurkov D.I., Kolodko D.V., Sorokin I.A. Measurements of the Ion-Beam Current Distribution over a Target Surface under a High Bias Potential. 2018 Instruments and Experimental Techniques 61(4) , 2018 . С. 530-537.

Полный текст не доступен из этого репозитория.
Официальный URL: https://doi.org/10.1134/S0020441218030223
Тип объекта: Статья
Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: Мамедов Н.В., Прохорович Д.Е., Юрков Д.И.,Колодко Д.В., Сорокин И.А.
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): 216 лаб. технологических процессов твердотельной электроники
URI: http://cplire.ru:8080/id/eprint/5747
Только для зарегистрированных пользователей
Изменить объект Изменить объект