Comparison of the ion beam profile measuring methods.

Mamedov N.V., Prokhorovich D.E., Kanshin I.A., Solodovnikov A.A., Kolodko D.V., Sorokin I.A. Comparison of the ion beam profile measuring methods. AIP Conference Proceedings 2011, 080006 , 2018 .

Полный текст не доступен из этого репозитория.
Официальный URL: https://doi.org/10.1063/1.5053361
Тип объекта: Статья
Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: Мамедов Н.В., Прохорович Д.Е., Каншин И.А., Солодовников А.А., Колодко Д.В., Сорокин И.А.
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): 216 лаб. технологических процессов твердотельной электроники
URI: http://cplire.ru:8080/id/eprint/5744
Только для зарегистрированных пользователей
Изменить объект Изменить объект