Thin-film ruthenium microstructures for transition edge sensors

Ilin A.S., Cohn I.A., Vystavkin A. N., Kovalenko A.G. Thin-film ruthenium microstructures for transition edge sensors. In: Международная конференция "Микро- и наноэлектроника – 2016" (ICMNE-2016)

[img]
Предварительный просмотр
Текст
ilin_ire_ras-abstract_icmne2016.pdf

Загрузить (327kB) | Предварительный просмотр
Тип объекта: Доклад на конференции или семинаре (Доклад)
Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: Ильин А.С., Кон И.А., Выставкин А.Н., Коваленко А.Г.
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): 194 лаб. низкоразмерных атомных структур
235 темгр. сверхпроводниковых субмиллиметровых микроболометров на разогреве электронов
URI: http://cplire.ru:8080/id/eprint/5275
Только для зарегистрированных пользователей
Изменить объект Изменить объект