Sergeev V. A.,, Frolov I.V., Mukhometzianov R.N. Apparatus for measuring the capacitance-voltage characteristics of semiconductor devices with an extended frequency range. In: International Conference on Actual Problems of Electron Devices Engineering, APEDE 2014, 25-26 сентября 2014 г.,, Материалы совещания, Саратов, Россия. , С. 181-182.
Полный текст не доступен из этого репозитория.Аннотация
Apparatus for measuring the capacitance-voltage characteristics of semiconductor devices with an extended frequency range
| Тип объекта: | Доклад на конференции или семинаре (Статья) |
|---|---|
| Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: | Сергеев ВА, Фролов ИВ, Михометзянов РН |
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | УФ-2 лаб. твердотельной электроники, опто- и наноэлектроники |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/5213 |
 |
Изменить объект |
