Смирнов В.И., Сергеев В.А., Гавриков А.А., ШОРИН А.М. Измерение теплового импеданса мощных транзисторов. РАДИОТЕХНИКА , 2017 (6). С. 83-90. ISSN 0033-8486
Полный текст не доступен из этого репозитория.Аннотация
Измерение теплового импеданса мощных транзисторов
| Тип объекта: | Статья | 
|---|---|
| Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: | Смирнов В.И., Сергеев В.А., Гавриков А.А., Шорин А.М. | 
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | УФ-2 лаб. твердотельной электроники, опто- и наноэлектроники | 
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/4405 | 
![]()  | 
        Изменить объект | 
        