Sergeev V. A.,, Frolov I.V. Estimate of Errors in the Determination of Parameters of Linear Thermal Circuits of Semiconductor Devices Based on the Frequency Dependence of the Thermal Impedance. Measurement Techniques , 2016 , 59 (8). С. 850-855.
Полный текст не доступен из этого репозитория.Аннотация
Estimate of Errors in the Determination of Parameters of Linear Thermal Circuits of Semiconductor Devices Based on the Frequency Dependence of the Thermal Impedance
| Тип объекта: | Статья |
|---|---|
| Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: | СЕРГЕЕВ В.А., ФРОЛОВ И.В. |
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | УФ-2 лаб. твердотельной электроники, опто- и наноэлектроники |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/4359 |
 |
Изменить объект |
