Nondestructive Evaluation Using a High-Tc SQUID Microscope

Faley Michael I., Kostyurina E. A., Diehle P., Poppe Ulrich, Kovacs A., Maslennikov Yuri V., Koshelets Valery P., Dunin-Borkowski Rafal E. Nondestructive Evaluation Using a High-Tc SQUID Microscope. IEEE Transactions on Applied Superconductivity , 2017 , 27 (4). 1600905_1-1600905_5. ISSN 1051-8223

[img]
Предварительный просмотр
Текст
2017_09.pdf

Загрузить (631kB) | Предварительный просмотр
Официальный URL: https://doi.org/10.1109/TASC.2016.2631419
Тип объекта: Статья
Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: Фалей М., Костюрина Е., Масленников Ю.В., Кошелец В.П.
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): 234 лаб. сверхпроводниковых устройств для приема и обработки информации
URI: http://cplire.ru:8080/id/eprint/4164
Только для зарегистрированных пользователей
Изменить объект Изменить объект