Ионопучковый элементный анализ поверхностного слоя материалов

Егоров В.К., Егоров Е.В., Афанасьев М.С. Ионопучковый элементный анализ поверхностного слоя материалов. In: 11 Международная конференция «Вакуумная техника, материалы и технологии»., 12 - 14 апреля 2016 г., КВЦ «Сокольники», Москва, Россия , ОАО «НИИВТ» им. С.А.Веншинского , С. 42-46.

Полный текст не доступен из этого репозитория.
Тип объекта: Доклад на конференции или семинаре (Доклад)
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): 251 лаб. исследования физических явлений на поверхности и границах раздела твердых тел
URI: http://cplire.ru:8080/id/eprint/4069
Только для зарегистрированных пользователей
Изменить объект Изменить объект