Егоров В.К., Егоров Е.В., Афанасьев М.С. Структурная и элементная диагностика материалов методами ионопучковых аналитических технологий. In: Первый Российский кристаллографический конгресс (RCC-2016), 21-26 ноября 2016 г., г. Москва, Россия , НП-Принт , р. 445.
Полный текст не доступен из этого репозитория.| Тип объекта: | Доклад на конференции или семинаре (Доклад) |
|---|---|
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | 251 лаб. исследования физических явлений на поверхности и границах раздела твердых тел |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/4067 |
 |
Изменить объект |
