TXRF spectrometry at ion beam extraction

Egorov V.K., Egorov E.V., Afanas’ev M.S. TXRF spectrometry at ion beam extraction. Journal of Physics: Conference Series , 2017 , 808. 012002-1-012002-4. ISSN 1742-6588

Предварительный просмотр

Текст Egorov, Afanas'ev-TXRF spectrometry at iob beam extraction.pdf Загрузить (626kB) | Предварительный просмотр

Аннотация

The work presents short discussion of TXRF and PIXE methods peculiarities. Taking into account of these peculiarities we elaborate the experimental scheme for TXRF measurements at ion beam excitation of characteristical fluorescence. The scheme is built on base of the planar X-ray waveguide-resonator with specific design. Features of the new experimental method and possibilities of Sokol-3 ion beam analytical complex were used for the method application in real measurements.

Тип объекта:	Статья
Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!:	Егоров В.К., Егоров Е.В., Афанасьев М.С.
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl):	251 лаб. исследования физических явлений на поверхности и границах раздела твердых тел
URI:	http://cplire.ru:8080/id/eprint/4053

Только для зарегистрированных пользователей

Изменить объект