Егоров В.К., Егоров Е.В., Афанасьев М.С. Особенности элементного анализа материалов и пленочных покрытий ионно-пучковыми диагностическими методами. In: XII Международная научно-техническая конференция «Вакуумная техника, материалы и технология», 11 – 13 апреля 2017 год, г. Москва, Россия (КВЦ "Сокольники")
Полный текст не доступен из этого репозитория.| Тип объекта: | Доклад на конференции или семинаре (Доклад) |
|---|---|
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | 251 лаб. исследования физических явлений на поверхности и границах раздела твердых тел |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/3882 |
 |
Изменить объект |
