Frolov A.V., Orlov A.P., Sinchenko A.A., Volkov V. A. Focused ion beam as an instrument of graphene nanostructuring. In: 25 Inretnational symposium "Nanostructures: Physics and Technology", June, 26-30, 2017, St. Petersburg , Academic University Publishing , С. 89-90.
Полный текст не доступен из этого репозитория.
Официальный URL: http://www.ioffe.ru/NANO2017/
| Тип объекта: | Доклад на конференции или семинаре (Постер) |
|---|---|
| Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: | Фролов А.В. Орлов А.П. Синченко А.А. Волков В.А. |
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | 184 лаб. методов получения тонких пленок и пленочных структур |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/3741 |
 |
Изменить объект |
