Сергеев В.А., Фролов И.В. Измерение параметров схем замещения многоэлементных двухполюсников методом импедансной спектроскопии с применением шумового тестового сигнала. In: Фундаментальные проблемы радиоэлектронного приборостроения: международная науч.-техн. конференция «INTERMATIC-2013»,, 2 – 6 декабря 2013 г, М.: МИРЭА , М.: МИРЭА , С. 72-75.
Полный текст не доступен из этого репозитория.Аннотация
Измерение параметров схем замещения многоэлементных двухполюсников методом импедансной спектроскопии с применением шумового тестового сигнала
| Тип объекта: | Доклад на конференции или семинаре (Статья) |
|---|---|
| Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: | Сергеев В. А., Фролов И. В. |
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | УФ-2 лаб. твердотельной электроники, опто- и наноэлектроники |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/2647 |
 |
Изменить объект |
