Влияние фокусировки на латеральное разрешение интерференционного микроскопа

Илюшин Я.А., Левин Г.Г., Моисеев Н.Н., Минаев В.Л. Влияние фокусировки на латеральное разрешение интерференционного микроскопа. Измерительная техника , 2014 (1). р. 45.

Полный текст не доступен из этого репозитория.

Тип объекта:	Статья
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl):	325 лаб. радиофизических методов в аэрокосмических исследованиях природно-техногенной среды
URI:	http://cplire.ru:8080/id/eprint/2333

Только для зарегистрированных пользователей

Изменить объект