Атомно-силовая микроскопия на поверхностях с развитым профилем

Темирязев А.Г., Борисов В.И., Саунин С.А. Атомно-силовая микроскопия на поверхностях с развитым профилем. In: Труды XVII Международный симпозиум Нанофизика и наноэлектроника., 11-15 марта 2013 г., Нижний Новгород , С. 245-246.

Полный текст не доступен из этого репозитория.
Тип объекта: Доклад на конференции или семинаре (Доклад)
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): 196 лаб. спин-волновых процессов в миллиметровом и субмиллиметровом диапазонах длин волн
URI: http://cplire.ru:8080/id/eprint/1830
Только для зарегистрированных пользователей
Изменить объект Изменить объект