Орлова Е.Е., Антонов А.В., Hovenier J.N., Klaassen T.O., Adam A.J.L., Каган М.С., Алтухов И.В., Vinh N.Q., Carder D.A., Phillips P.J., Redlich B. Измерение времен жизни примесных состояний методом накачки и пробного импульса в условиях двухступенчатой фотоионизации. Труды XIX Международного симпозиума Нанофизика и Наноэлектроника , 2015 , 2. С. 609-610.
Полный текст не доступен из этого репозитория. (Заказать копию)| Тип объекта: | Статья |
|---|---|
| Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: | Е.Е.Орлова, А.В.Антонов, М.С.Каган, И.В.Алтухов |
| Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): | 171 лаб. полупроводниковых приборов 172 лаб. электронных процессов в полупроводниковых материалах |
| URI: | http://cplire.ru:8080/id/eprint/1540 |
 |
Изменить объект |
