Спектральная плотность мощности шума волоконного интерферометра рассеянного излучения с полупроводниковым лазерным источником

Алексеев А.Э., Потапов В.Т. Спектральная плотность мощности шума волоконного интерферометра рассеянного излучения с полупроводниковым лазерным источником. Квантовая электроника , 2013 , 43 (10). С. 968-973. ISSN 0368-7147

Полный текст не доступен из этого репозитория.

Аннотация

Рассмотрены спектральные характеристики шумовых флуктуаций интенсивности на выходе интерферометра рассеянного излучения, вызванные флуктуациями фазы излучения полупроводникового лазера. Данный вид шума является одним из основных факторов, ограничивающих чувствительность интерферометрических датчиков. Впервые, по нашим сведениям, получено выражение для средней спектральной плотности мощности шума на выходе интерферометра в зависимости от степени когерентности источника и длины рассеивающего участка. Рассмотрены также приближенные выражения, определяющие спектральную плотность мощности в области низких частот (до 200 кГц) и в пределе больших длин рассеивающих участков. Полученное выражение для спектральной плотности мощности шума с хорошей точностью согласуется с экспериментальными нормированными спектрами мощности.

Тип объекта:	Статья
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl):	278 лаб. радиофизических измерений
URI:	http://cplire.ru:8080/id/eprint/152

Только для зарегистрированных пользователей

Изменить объект