Фононная спектроскопия нано- и микроструктурированной керамики

Хазанов Е.Н., Таранов А.В. Фононная спектроскопия нано- и микроструктурированной керамики. РАДИОТЕХНИКА И ЭЛЕКТРОНИКА , 2013 , 58 (9). С. 874-890. ISSN 0033-8494

Предварительный просмотр

Текст RDE0874.pdf Загрузить (1MB) | Предварительный просмотр

Аннотация

Установлена связь коэффициента диффузии тепловых фононов субтерагерцовых частот с системой межзеренных границ, размером и структурой зерен, технологическими условиями синтеза. Показано, что температурная зависимость коэффициента диффузии фононов при гелиевых температурах определяется спектральными свойствами межзеренного слоя, что позволяет оценить средние по образцу значения его толщины и акустического импеданса. Исследованы условия возникновения и характеристики «щели» в собственном фононном спектре керамики. Изучены особенности транспорта фононов субтерагерцовых частот в керамике на основе сегнетоэлектриков, твердых растворов электролитов, керметах.

Тип объекта:	Статья
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl):	171 лаб. полупроводниковых приборов
URI:	http://cplire.ru:8080/id/eprint/1367

Только для зарегистрированных пользователей

Изменить объект