Influence of the Homobuffer Layer on the Morphology, Microstructure, and Hardness of Al/Si(111) Films

Lomov A. A., Zakharov D. M., Tarasov M. A., Chekushkin A. M., Tatarintsev A. A., Kiselev D. A., Ilyina T. S., Seleznev A. E. Influence of the Homobuffer Layer on the Morphology, Microstructure, and Hardness of Al/Si(111) Films. Technical Physics , 2024 , 69 (6). С. 1636-1645. ISSN 1063-7842

[img]
Предварительный просмотр
Текст
27_2024.pdf

Загрузить (1MB) | Предварительный просмотр
Официальный URL: https://doi.org/10.1134/S1063784224060239
Тип объекта: Статья
Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: Ломов А.А., Захаров Д.М., Тарасов М.А., Чекушкин А.М., Татаринцев А.А., Киселев Д.А., Ильина Т.С., Селезнев А.Е.
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): 234 лаб. сверхпроводниковых устройств для приема и обработки информации
URI: http://cplire.ru:8080/id/eprint/10538
Только для зарегистрированных пользователей
Изменить объект Изменить объект