Measurements of the Ion-Beam Current Distribution over a Target Surface under a High Bias Potential

Mamedov N. V., Prokhorovich D. E., Yurkov D. I., Kanshin I. A., Solodovnikov A. A., Kolodko D. V., Sorokin I. A. Measurements of the Ion-Beam Current Distribution over a Target Surface under a High Bias Potential. Instruments and Experimental Techniques , 2018 , 61 (4). С. 530-537. ISSN 0020-4412

Полный текст не доступен из этого репозитория.
Официальный URL: https://doi.org/10.1134/S0020441218030223
Тип объекта: Статья
Авторы на русском. ОБЯЗАТЕЛЬНО ДЛЯ АНГЛОЯЗЫЧНЫХ ПУБЛИКАЦИЙ!: Мамедов, Прохорович, Юрков, Каньшин, Солодовников, Колодко, Сорокин
Подразделения (можно выбрать несколько, удерживая Ctrl): 216 лаб. технологических процессов твердотельной электроники
URI: http://cplire.ru:8080/id/eprint/10152
Только для зарегистрированных пользователей
Изменить объект Изменить объект